外观测试

项目介绍：

外观测试是通过物理的方法观察元器件的外观，检查其标志、外观、封装、镀层或涂敷层等外部质量是否符合要求。

外观测试是快速评估元器件质量的关键工具。外观测试的检查内容包含来料包装及标签、芯片型号、批次、丝印、封装、器件本体表面、管脚状况等。

适用范围：

    覆盖所有种类和封装的电子元器件型号。

参考标准：

GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

JESD22-B100B 物理尺寸

JESD22-B101 外观检测

JESD22-B108A 贴装半导体元器件平面度测试

AS6081 欺诈/伪造电子零件：避免，检测，缓解和处置-分销商

AS6171 测试方法标准；通用要求，可疑/伪造，电气，电子和机电零件

GJB 548B-2005方法2009 外部目检等

典型图片：

           外观破损

          表面打磨痕迹

            双重丝印

            二次涂覆痕迹

             基板开裂

           管脚严重氧化

           焊球损伤