元器件性能测试

安芯检测对外提供元器件性能测试服务，包含参数测试、功能检测、编程烧录测试。

1、参数测试

项目介绍：

使用半导体专用测试设备或多种仪器组合，对电子元器件电特性参数进行测试，检验是否符合标准或规格书要求。

适用范围：

各类半导体分立器件，如电阻、电容、电感、二极管、三极管，场效应管、可控硅等；

各类模拟IC，如电压调整器、运算放大器，光藕等；

各类电源模块、数字电路或数模混合电路等，均可通过参数测试进行初步的筛选与判断。

参考标准：

GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器 第1部分：总规范

GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变 压器和电感器测量方法及试验程序

GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号(包括开关)和调整二极管

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集 成电路第7部分：双极型晶体管

GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管

GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

SJ/T 10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

    注：根据客户要求及产品标准要求，选用相应的检测方法标准，标准较多，此处不做一一列举。

2、功能检测

项目介绍：

功能检测是对电子元器件的各功能进行验证，依据产品规格书（或设计说明书）、应用笔记、器件应用环境及现场等情况，综合各硬件资源，制定针对性的检测方案，对器件进行参数、逻辑关系、信号特征及相关的电压电流值等逐项测试，综合检测数据和结果判断是否符合规格书要求。

适用范围：

支持所有种类和封装的电子元器件型号，包含各类低、中、高速ADC/DAC芯片；全品牌（Intel、Xilinx、Microsemi、Actel、Lattice等）全系列PAL/GAL/CPLD/FPGA，最大封装可支持3824管脚。

支持-70℃～+150℃、0～95%RH温湿度条件下进行功能检测。

参考标准：

根据客户要求及产品标准要求，选用相应的检测标准及方法。

项目介绍：

功能检测是对电子元器件的各功能进行验证，依据产品规格书（或设计说明书）、应用笔记、器件应用环境及现场等情况，综合各硬件资源，制定针对性的检测方案，对器件进行参数、逻辑关系、信号特征及相关的电压电流值等逐项测试，综合检测数据和结果判断是否符合规格书要求。

适用范围：

支持所有种类和封装的电子元器件型号，包含各类低、中、高速ADC/DAC芯片；全品牌（Intel、Xilinx、Microsemi、Actel、Lattice等）全系列PAL/GAL/CPLD/FPGA，最大封装可支持3824管脚。

支持-70℃～+150℃、0～95%RH温湿度条件下进行功能检测。

参考标准：

根据客户要求及产品标准要求，选用相应的检测标准及方法。

典型图片：

3、编程烧录

项目介绍：

使用通用编程器加上对应的适配座完成非易失性存储芯片的编程烧录操作。

适用范围：

器件支持: EPROM、Paged EPROM、并行和串行EEPROM、FPGA配置串行PROM、FLASH存储器（NOR 和NAND）、BPROM、NVRAM、SPLD、CPLD、EPLD、Firmware HUB、单片机、MCU等。

封装支持: DIP, SDIP, PLCC, JLCC, SOIC, QFP, TQFP, PQFP, VQFP, TSOP, SOP, TSOPII, PSOP, TSSOP, SON, EBGA, FBGA, VFBGA, uBGA, CSP, SCSP等

技术优势：

我们拥有支持406个厂牌，多达103496种可编程器件型号的编程设备。

欢迎来函来电，期待与贵司的接触，我们珍惜每一封邮件，期待每一次沟通，为您解决每次元器件检测难题；

联系人：林小姐

联系电话：0755-82726081

邮箱：pq@ichub.com