服务项目

真实性检验（AIV）
概述：通过外观标示检测、化学解剖、内部晶粒显微观察分析、器件PIN脚一致性检测等多种方式，来检验鉴定器件是否为原厂生产的器件。
直流特性参数测试（DCCT）
概述：使用专业IC测试机测量分析器件的直流特性参数，又称静态参数测试法。
关键功能检测（KFT）
概述:是一种动态测试方法，又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件（即器件正常使用环境，通常为常温），不考虑器件的极限参数（如最大/最小参数），器件正常工作的状态下，进行各种必要的逻辑或信号状态测试。此测试依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场，以及行业标准或规范，设计可行性测试向量或专用测试电路，对检测样片施加相应的有效激励（信号源）输入，通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等特定条件，分析信号的逻辑关系及输出波形的变化状态，检测器件的功能特性。
全部功能及特性参数测试（FFCT）
概述： 简称全功能测试，依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场，对器件的全部功能进行测试，包括直流特性参数的测试，但不包括AC参数特性的验证分析和部分不可批量测试的极限参数。
交流参数测试及分析（ACCT）
概述：简称交流参数测试，根据器件的设计要求，进行交流参数的分析。如验证器件信号传输的特性参数，及边沿特性（即Set-Up Time , Hold-On Time 等测试）， 又如采用Shmoo Plote等工具来分析当一个变量随着另一个变量变化而变化的特性曲线图等等。
可靠性测试
高温、低温寿命老化、恒温恒湿、高加速温湿、温循、温冲、预处理、超声波扫描、跌落实验、可焊性、耐焊性测试、ESD等
失效分析
静电与闩锁失效分析、电浪涌失效分析、机械应力失效分析、结构缺陷失效分析、热变应力失效分析、材料缺陷失效分析、制造工艺缺陷失效分析、整机设计缺陷失效分析、污染腐蚀失效分析 元器件固有机理失效分析。